当社のアルゴリズムが初参加で優秀賞を受賞

外観検査アルゴリズムコンテスト2015で優秀賞




株式会社ライトストーンは、精密工学会 画像応用技術専門委員会主催の外観検査アルゴリズムコンテスト2015にエントリーし、全142件のエントリーがあった中で、優秀賞を受賞いたしました。

外観検査アルゴリズムコンテストは、画像を用いた外観検査技術の発展を図るために2001年より毎年行われているコンテストです。製造現場等で生じる画像をそのまま使用し、参加者には実践に即した課題が与えられます。今年度のコンテストでは、鋳造部品が対象となりました。

コンテスト参加者には、解答がわかっている良品画像5枚、欠陥品画像6枚が与えられます。この画像をもとに、未知の鋳造部品の画像から欠陥を検出するプログラムを作成し、競い合いました。コンテストにさまざまな優れたアルゴリズムが応募されましたが、当社のアルゴリズムは優秀な成績を収め、初参加ながら優秀賞を受賞いたしました。

コンテストの結果は2015年12月3日、4日に開催された「ViEW2015」にて発表され、当社はインタラクティブセッションにて、この技術に関する発表を行いました。

 

外観検査アルゴリズムコンテスト2015
ViEW2015

 

欠陥品のサンプル画像
欠陥品のサンプル画像

表彰式の様子1  表彰式の様子2
表彰式の様子

プログラム開発を承っております。下記までお問い合わせください。

お問合せページのフォーム「価格・見積・購入・その他についてのお問合せ」をご利用ください。